過去幾天，上海的天氣經(jīng)歷了烈日和暴雨的極端涌動(dòng)，似有英雄匯聚于八方，氣勢磅礴于天地的架勢。原來是全球半導(dǎo)體界盛會(huì)SEMICON開幕，整個(gè)半導(dǎo)體供應(yīng)鏈系統(tǒng)的各路大師齊聚上海。作為半導(dǎo)體測試測量行業(yè)的引領(lǐng)者，NI展出了包括5G芯片測試系統(tǒng)等明星產(chǎn)品。展臺(tái)人頭攢動(dòng)，工程師們大汗淋漓地為參觀者講解NI此次重點(diǎn)展出的創(chuàng)新方案，如果你還意猶未盡，跟隨我們一起回顧這幾天的先鋒之旅！

5G熱點(diǎn)，我們很資深

2010年，NI就進(jìn)入5G市場。從最開始5G設(shè)計(jì)的原形，一直到這兩年開始的5G商用化，NI一直扮演著非常重要的角色。此次NI展出最新5G射頻芯片測試方案，通過NI軟硬件平臺(tái)實(shí)現(xiàn)大規(guī)模天線、毫米波頻段等5G重點(diǎn)方向的原型平臺(tái)設(shè)計(jì)。

NI攜手Skyworks，展示了如何利用NI以軟件為中心的模塊化儀器、充分滿足針對(duì)5G RFIC的各類測試需求。借助于NI 1GHz高帶寬的最新矢量信號(hào)收發(fā)儀，集成高性能數(shù)字和功率測試模塊，使得測試射頻前端芯片變得非常便捷。

NI打造了符合3GPP標(biāo)準(zhǔn)的sub-6G NR參考測試方案，其中RFIC測試方案支持802.11、2G、3G、4G以及5G NR等標(biāo)準(zhǔn)，現(xiàn)全新軟件已支持5G NR新波形OFDMA及DFT-s-OFDM等調(diào)制方式。

基于PXI的ADC/DAC測試方案，我們很優(yōu)秀

高性能儀器同步
最佳交互體驗(yàn)
可擴(kuò)展標(biāo)準(zhǔn)工業(yè)平臺(tái)

半導(dǎo)體測試系統(tǒng)STS，我們很高效

NI的半導(dǎo)體測試系統(tǒng)（STS）可快速部署到生產(chǎn)的測試系統(tǒng)，適用于半導(dǎo)體生產(chǎn)測試環(huán)境（實(shí)驗(yàn)室驗(yàn)證、晶圓級(jí)測試、FT測試等），可進(jìn)一步提升半導(dǎo)體測試效率，降低測試成本。

NI STS T1系統(tǒng)與Reid Ashman機(jī)械手完美搭配，可面向不同測試系統(tǒng)、定制各種應(yīng)用，易于使用和低維護(hù)配重設(shè)計(jì)，能夠輕松集成到生產(chǎn)測試設(shè)備中。

Talos實(shí)驗(yàn)室工程Handler

NI的合作伙伴——esmo采用NI STS T1系統(tǒng)、打造的Talos實(shí)驗(yàn)室工程Handler在本屆SEMICON的展臺(tái)上吸引了不少眼球。其實(shí)現(xiàn)了全自動(dòng)化生產(chǎn)測試，并支持三溫測試、溫度穩(wěn)定性優(yōu)于+/-0.5度、自動(dòng)激光定位系統(tǒng)等功能。也因?yàn)槭褂昧私y(tǒng)一開發(fā)環(huán)境LabVIEW和測試管理執(zhí)行軟件TestStand，這一臺(tái)分選機(jī)將同樣在實(shí)驗(yàn)室和量產(chǎn)測試中使用，并減少數(shù)據(jù)關(guān)聯(lián)（Correlation）時(shí)間，進(jìn)一步提升半導(dǎo)體測試效率。

I2C，SPI驗(yàn)證方案

電源管理芯片性能測試

過去幾日，NI與半導(dǎo)體行業(yè)精英們在這里分享著創(chuàng)新技術(shù)與行業(yè)洞察，SEMICON精彩旅程完美結(jié)束。但我們并未停止。5月20日，NI將在美國召開一年一度的NIWeek，發(fā)布航空、國防、汽車、半導(dǎo)體等應(yīng)用領(lǐng)域中的重大科技創(chuàng)新。讓我們拭目以待！

關(guān)于National Instruments（簡稱“NI”）

NI以軟件為中心的平臺(tái)集成了模塊化硬件和龐大的生態(tài)系統(tǒng)，助力工程師和科學(xué)家應(yīng)對(duì)各種挑戰(zhàn)。? 這一久經(jīng)驗(yàn)證的方法可讓用戶完全自主地定義所需的一切來加速測試測量和控制應(yīng)用的系統(tǒng)設(shè)計(jì)。 NI解決方案可幫助用戶構(gòu)建超出預(yù)期的高性能系統(tǒng)，快速適應(yīng)需求的變化，最終改善人類的生活。